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掃描量熱儀的原理及用途

  差示掃描量熱儀是在次序溫度操控下丈量物質與參比物之間單位時間的能量差(或功率差)隨溫度變化的一種技能。它是在差熱剖析的基礎之上開展而來的,抑製了差熱剖析隻能定性或許半定量的缺陷,可用於丈量包含高分子材料在內的固體、液體材料的熔點、沸點、玻璃化改變、比熱、結晶溫度、結晶度、純度、反應溫度、反應熱等等。根據丈量方法的不同,掃描量熱儀有暖流型、功率補償型、調製暖流型三種。那麼它這三種類型的原理是什麼樣的呢?一同來理解一下:

  暖流型掃描量熱儀:在給予試樣和參比物相反的功率下,測定樣品和參比品兩頭的溫差DT,然後根據暖流方程,將DT(溫差)換算成DQ(熱量差)作為信號的輸入。

  原理簡介:暖流型掃描量熱儀與DTA儀器十分類似,不同之處在於試樣與參比物托架下,置一電熱片(通常是康銅),加熱器在次序操控下對加熱塊加熱,其熱量通過電熱片同時對試樣和參比物加熱,使之受熱均勻。儀器所丈量的是通過電熱片流向試樣和參比物的暖流之差。

  功率補償型掃描量熱儀:按試樣相變(或反應)而構成的試樣和參比物間溫差的方曆來提供電功率,以使兩者的溫差趨於零(通常是溫差小於0.01 K)。測定試樣和參比物兩頭所需的能量差,並直接作為信號DQ(熱量差)輸入。

  原理簡介:功率補償型掃描量熱儀在試樣和參比物下放置有一組差式熱電偶。試樣與參比物有溫度差別時,熱電偶發作電勢差,經差熱縮小器縮小後送入功率補償縮小器,由其調度補償加熱絲的電流,使試樣與參比物之間的溫差ΔT趨與零。並直接作為信號DQ(熱量差)輸入。